描述：場發(fā)射掃描電鏡 SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。*的鏡筒設(shè)計，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計，實現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時磁性樣品可適用。光學導航、完善的自動功能、精心設(shè)計的人機交互，優(yōu)化的操作和使用流程，無論經(jīng)驗是否豐富，都可以快速上手，完成高分辨率拍攝任務
分辨率高，低加速電壓下實現(xiàn)高分辨成像
電磁復合物鏡，減小像差，顯著提高低電壓下的分辨率，而且可觀察磁性樣品
高壓隧道技術(shù)(SuperTunnel) ，在隧道中的電子能保持高能量，減少了空間電荷效應，低電壓分辨率得到保證
電子光路無交叉，有效的降低系統(tǒng)像差，提升分辨能力
水冷恒溫物鏡，保證物鏡工作的穩(wěn)定性、可靠性和可重復性
磁偏轉(zhuǎn)六孔可調(diào)光闌，自動切換光闌孔，無需機械調(diào)節(jié)，實現(xiàn)高分辨率觀察或大束流分析模式快速切換
玻璃基底片 /3kV/ETD
催化劑 /5kV/Inlens
大腸桿菌 /3kV/Inlens
氮化硼納米片 /3kV/ETD
三元正極前驅(qū)體 /3kV/Inlens
高熵合金粉末 /10kV/BSED
金屬銅粉 /3kV/Inlens
陶瓷截面 /3kV/Inlens
鈷酸鋰 /3kV/Inlens
納米花 /1kV/Inlens
植物切片 /30kV/STEM-BF
植物切片 /30kV/STEM-DF
植物切片 /30kV/STEM-HAADF
勃姆石 /5kV/BSED
鋼鐵夾雜物 /15kV/BSED
鋼鐵夾雜物 /15kV/Inlens| 關(guān)鍵參數(shù) | 分辨率 | 1.0?nm @ 15 kV，SE 0.8 nm @ 30 kV，STEM |
| 加速電壓 | 20 V ～ 30 kV | |
| 放大倍率 | 1 ～ 2,500,000 x | |
| 電子槍類型 | 肖特基場發(fā)射電子槍 | |
| 樣品室 | 真空系統(tǒng) | 全自動控制 |
| 攝像頭 | 雙攝像頭 （光學導航+樣品倉內(nèi)監(jiān)控） | |
樣品臺行程 | X: 120 mm，Y: 115 mm，Z: 50 mm （* 可選配超大倉體版本） | |
| 探測器和擴展 | 標配 | 鏡筒內(nèi)高角度電子探測器 側(cè)向低角度電子探測器 |
| 選配 | 插入式背散射電子探測器 軌跡球 & 旋鈕控制板 | |
| 軟件 | 語言 | 中文 |
| 操作系統(tǒng) | Windows | |
| 導航 | 光學導航、手勢快捷導航 | |
| 自動功能 | 自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散 |
